用在進(jìn)行半導(dǎo)體器件新開發(fā)類型的測(cè)試和研究，以及批量生產(chǎn)中測(cè)試時(shí)對(duì)半導(dǎo)體器件的質(zhì)量控制。 FORMULA? TT3滿足微電子測(cè)量和測(cè)試的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)要求。

用于場(chǎng)效應(yīng)晶體管和絕緣柵雙極型晶體管的柵漏、柵源和總電荷； ● 被動(dòng)組件特定參數(shù)測(cè)量（L、C、R）。 

用于全面自動(dòng)檢驗(yàn)半導(dǎo)體設(shè)備靜態(tài)參數(shù)的通用測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)，包括：場(chǎng)效應(yīng)管和雙極型晶體管、絕緣柵雙極型晶體管、二極管、晶閘管、穩(wěn)壓管、光導(dǎo)發(fā)光組件和微電子組件，以及： ● 電容測(cè)量：用于場(chǎng)效應(yīng)晶體管和絕緣柵雙極型晶體管的輸入、交叉和輸出電容。半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng) FORMULA? TT3 由FORMULA? TT3 ATE提供的各個(gè)階段的高水平全面自動(dòng)化測(cè)試過程，使得我們有可能專注于半導(dǎo)體器件測(cè)試的運(yùn)行特性和偏差分析上。 硬件/軟件、設(shè)計(jì)以及在系統(tǒng)測(cè)試中實(shí)現(xiàn)的計(jì)算解決方案保證了高度可靠的結(jié)果，這些結(jié)果使測(cè)試人員的工作不受程序和誤差的影響，并在工業(yè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)量和測(cè)試時(shí)顯著提高操作效率。